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    SPESSIMETRO PER RIVESTIMENTI ARW-2300

    Strumento compatto e maneggevole dotato di un ampio display a colori ad alta definizione per una misura chiara, veloce e precisa.
    €303,00
    i h

    SPESSIMETRO PER RIVESTIMENTI ARW-2300 

    Strumento in grado di misurare in modo rapido,non distruttivo e preciso lo spessore del rivestimento non magnetico su substrati metallici magnetici e non magnetici. 

    Allo stesso tempo,l'ARW-2300 consente di identificare automaticamente il substrato metallico non magnetico. Dotato di un ampio display a colori ad alta definizione permette di identificare i valori in maniera chiara e precisa. 

     

    CARATTERISTICHE PRINCIPALI 

    -Funzionamento del menù ed ampio Display HD grafico a colori 

    -Due metodi di misurazione:misurazione singola,misurazione continua 

    -Calibrazione di base e calibrazione del punto zero disponibili

    -Doppia tecnologia di misura,per substrati ferrosi e non ferrosi (F/FN)

     

    SPECIFICHE TECNICHE

     

    CAMPO DI MISURA 0∼1300 um/51ml
    RISOLUZIONE  (0.1 μm(100 µm),(>100μm))/0.1mil
    ERRORE DI MISURA  <150µm+-(3%H+1µm)
    DIAMETRO MINIMO DEL SUBSTRATO METALLICO MAGNETICO  12mm 
    SPESSORE MINIMO DELSUBSTRATO METALLICO MAGNETICO  0.5mm
    RAGGIO MINIMO DI CURVATURA PER SUBSTRATO MAGNETICO CONVESSO 2mm
    RAGGIO MINIMO DI CURVATURA PER SUBSTRATO MAGNETICO CONCAVO 11mm
    DIAMETRO MINIMO DEL SUBSTRATO METALLICO NON MAGNETICO  50mm
    SPESSORE MINIMO DEL SUBSTRATO METALLICI NON MAGNETICO  0.5mm 

     

     

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    SPESSIMETRO PER RIVESTIMENTI ARW-2300 

    Strumento in grado di misurare in modo rapido,non distruttivo e preciso lo spessore del rivestimento non magnetico su substrati metallici magnetici e non magnetici. 

    Allo stesso tempo,l'ARW-2300 consente di identificare automaticamente il substrato metallico non magnetico. Dotato di un ampio display a colori ad alta definizione permette di identificare i valori in maniera chiara e precisa. 

     

    CARATTERISTICHE PRINCIPALI 

    -Funzionamento del menù ed ampio Display HD grafico a colori 

    -Due metodi di misurazione:misurazione singola,misurazione continua 

    -Calibrazione di base e calibrazione del punto zero disponibili

    -Doppia tecnologia di misura,per substrati ferrosi e non ferrosi (F/FN)

     

    SPECIFICHE TECNICHE

     

    CAMPO DI MISURA 0∼1300 um/51ml
    RISOLUZIONE  (0.1 μm(100 µm),(>100μm))/0.1mil
    ERRORE DI MISURA  <150µm+-(3%H+1µm)
    DIAMETRO MINIMO DEL SUBSTRATO METALLICO MAGNETICO  12mm 
    SPESSORE MINIMO DELSUBSTRATO METALLICO MAGNETICO  0.5mm
    RAGGIO MINIMO DI CURVATURA PER SUBSTRATO MAGNETICO CONVESSO 2mm
    RAGGIO MINIMO DI CURVATURA PER SUBSTRATO MAGNETICO CONCAVO 11mm
    DIAMETRO MINIMO DEL SUBSTRATO METALLICO NON MAGNETICO  50mm
    SPESSORE MINIMO DEL SUBSTRATO METALLICI NON MAGNETICO  0.5mm 

     

     

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